靈動微電子基于Arm Cortex-M系列內核開發的MM32 MCU產品擁有F/L/SPIN/W/P五大系列，200多個型號規格，累計交付近億顆MCU，在本土通用32位MCU公司中位居前列。靈動微是本土僅有的同時獲得了ARM-KEIL、IAR、SEGGER國際權威組織官方支持的本土MCU公司，是為數不多的建立了獨立且完善的生態體系的通用MCU公司，給客戶提供從優異芯片產品到核心算法、從完備參考設計方案到整機開發的全方位支持，真正為中國電子信息產業提供底層技術驅動和支持。下面介紹的是關于靈動微ARM Cortex內核測試向量生成的相關技術

 

測試向量生成

 

用自動測試設備(ATE)測試ARM芯片是一種傳統的測試技術，其優點是可以靈活編制測試向量，專注于應用相關的功能模塊和參數。但是由于ARM芯片的功能與應用有相當的復雜性，因此對測試系統所具有的能力也要求較高。這就要求測試設備本身必須要具備測試各種不同功能模塊的能力， 包含對邏輯、模擬、內存、高速或高頻電路的測試能力等等。同時測試系統最好是每個測試通道都有自己的獨立測試能力，避免采用資源共享的方式，以便能夠靈活運用在各種不同的測試功能上。所以常規的AR M 芯片測試設備往往要求相當高的配置才能應對測試需求。

 

測試的含義非常廣泛， 就ARM芯片測試而言，可以定義多種類型的測試，不同類型的測試需要產生不同類型的測試向量。而測試向量生成的方法，雖然可以人工編制， 但大多數情況需要由測試向量生成工具(ATPG) 生成，才能產生比較完備的測試集。本文介紹的ARM芯片測試方法，借助對應的ARM芯片開發工具產生測試代碼，再由專用的測試向量生成工具生成測試向量.這種方法的優點是能針對ARM芯片應用開發人員關心的測試集合產生測試向量，因而比較高效，測試成本也能控制在比較低的水平上。可以借助大量的ARM芯片應用軟件來轉碼， 能大幅減少工作量。缺點是不容易用算法來實現自動生成完備的測試代碼。

 

ARM芯片測試向量生成器。測試代碼可以從ARM芯片開發例程中獲得， 測試向量通過編譯器編譯成ARM芯片可執行代碼， 然后與激勵向量和期望向量混合生成完整的ARM芯片測試向量。ARM芯片測試向量生成工具通過時間參數來確定測試代碼。激勵向量與期望向量之間的時序關系，ARM芯片時間參數可從芯片手冊中獲得.測試向量生成后， 通過BC3192 集成開發環境下載到測試系統圖形卡中，啟動測試程序，激勵向量依序施加到被測ARM 芯片的輸入端口，同時對輸出端進行監測比較獲得測試結果.綜上，測試向量的產生是ARM芯片測試的核心，本文所述測試向量生成器通過輸入ARM 芯片可執行代碼和芯片時間參數來產生測試邏輯，具有易用.高效的特點，現已用于多個ARM Cortex 內核微處理器的測試中。


本文關鍵詞：靈動微  ARM Cortex內核

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